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三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

型號:TSD-80F-3P

瀏覽量:2109

更新時間:2025-02-18

價格:79000

簡要描述:

三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測
該產品適用于電子元氣件的性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。

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三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測
品牌HT/皓天價格區(qū)間5萬-10萬
產地類別國產應用領域能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

 

三箱分別分為高溫箱,低溫箱,測試箱,采取*的自動切換方式,讓產品在測試區(qū)接受高溫和低溫的檢驗,為產品的技術改良提供有效依據。

主要用于產品在瞬間低溫和瞬間高溫情況下,檢測產品的忍耐能力和耐環(huán)境破壞能力。冷熱沖擊試驗箱適用范圍:LED,電池,電子,電工,化工,汽車,數碼,電腦,塑膠,玻璃等產品和零配件。

 

三箱式冷熱沖擊試驗箱價格的箱體結構:

高低溫沖擊試驗箱全部功能采用計算機控制,系自主開發(fā)的軟件,有良好的操作界面,使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀,保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態(tài)下,可以臨時更改此程序段的數值,可以在屏幕上設置時間的參數,使制冷、加熱、提藍傳送切換,按設定值自動進行。
冷箱、熱箱獨立控制,箱門互相獨立,擴大試驗箱的使用范圍(一箱三用)。
產品保溫效果可以得到充分保證。
試驗箱門與循環(huán)風機,提藍傳動等互鎖,保護操作者的**一旦打開箱門,循環(huán)風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。在箱頂有標準引線孔管,方便用戶向箱內引入傳感器線,檢測電纜等類型引線。

三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

 

性能
指標

溫度范圍

A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃

 

溫度波動

高溫室及低溫室均±2℃

 

樣品區(qū)溫度波動

±0.5℃(恒溫時)

 

樣品區(qū)承重

30kg

30kg

50kg

60kg

溫濕度運行控制系統(tǒng)

控制器

進口LED數顯(P·I·D +S·S·R)微電腦集成控制器

 

精度范圍

設定精度:溫度0.1℃,指示精度:溫度0.1℃,解析度:0.1℃

 

制冷系統(tǒng)

進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組/原裝法國“泰康”/全封閉風冷復迭壓縮制冷方式

 

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